簡単な技術資料
INDEX
標準的なインバーター水晶発振回路
発振余裕度(負性抵抗)の確認
負荷容量 と負性抵抗の関係
発振回路の負性抵抗のテスト例
負荷容量と周波数の関係
基板上での周波数測定について
時計用水晶振動子の温度特性
SPXOの温度特性
水晶振動子・仕様の用語の簡単な解説
VCXOの変調率
VCXOの周波数可変幅と温度特性

標準的なCMOS水晶発振回路と回路定数


−標準的なCMOS発振回路 ( 基本波 )-

 


−上記回路における回路定数 ( 大体の目安です)−

Rf = 1MΩ ( 下記周波数範囲にて)

Rd、C1、C2 = 下表

下記表はおおよその目安の値です。実際には基板上での測定値に基づき定数を決定します。

周波数範囲 Rd   C1、C2 
CL=12pF 時 CL=16pF 時 CL=18pF 時 CL=30pF 時
3 〜 4MHz 5.6K
-
22pF 27pF 47pF
4 〜 5MHz 3.9KΩ - 22pF 27pF 47pF
5 〜 6MHz 2.7KΩ 15pF 22pF 27pF 47pF
6 〜 8MHz 2.7KΩ 15pF 22pF 27pF 47pF
8 〜 12MHz 1.8KΩ 15pF 22pF 27pF 47pF
12 〜 15MHz 1.0KΩ 15pF 22pF 27pF 47pF
 15 〜 20MHz  1.0KΩ 15pF 22pF 27pF -
20 〜 30MHz 560Ω 15pF 22pF 27pF -

※ Rd の値は大まかな推奨値です。 負性抵抗値を確認しながら値を調整してください。
負性抵抗値が少ない場合Rdの値は小さくします(ゼロまで落とす場合もあります)。
※ 
Rdを0にしても十分な負性抵抗が得られない場合は、C1 , C2の値を下げて負性抵抗を稼ぎます。
※ C1 , C2 の値を下げても負性抵抗が十分に取れない場合は、ICの変更などの回路の見直しが必要です。

※ 
C1、C2 は大まかな目安の値です。 実際基板上での測定値に基づき調整します。
                
 
負荷容量について ( 1)

  
CL = <C1*C2/(C1+C2)> + Cz  

 ( Cz:回路上の水晶振動子からみた浮遊容量、 基板やICにより異なります )



(注) このページ内のデータ数値はあくまで目安になるものとしての値を提示しています。このデータをもとに
   弊社の関与しないところで設計等された場合に何らかのトラブルが発生したとしても一切の責任は
   負いかねますので予めご了解ください。

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